特許
J-GLOBAL ID：200903006096454477
耐候劣化検出方法およびその装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
大川 宏
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-324245
公開番号（公開出願番号）：特開平9-166542
出願日： 1995年12月13日
公開日（公表日）： 1997年06月24日
要約：
【要約】【課題】高分子材料の耐候劣化の度合いを、従来のように多項目にわたる測定・評価をおこなうことなく、1項目の測定で精度良く、かつ簡便に、そして耐候劣化をより早期に知ることができる耐候劣化検出方法とその装置。【解決手段】紫外線を被測定物の表面に照射させることができる光源1と、拡散反射光を受光する手段5と、受光した紫外線を電気的信号に変換する受光器4と、該受光器からの電気的信号を表示する表示部7とからなる耐候劣化検出装置。紫外線吸収剤を含む被測定物に紫外線を照射して、該被測定物から拡散反射する紫外線を受光し、受光した紫外線量の測定値の変化により該被測定物の耐候劣化の度合いを評価する耐候劣化検出方法。
請求項（抜粋）：
紫外線吸収剤を含む被測定物に紫外線を照射して、該被測定物から拡散反射する紫外線を受光し、受光した紫外線量の測定値の変化により該被測定物の耐候劣化の度合いを評価することを特徴とする耐候劣化検出方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
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