特許

J-GLOBAL ID：200903006131537917

孔のパターンの位置および角度方向の特定方法および特定装置

発明者： ジャナキラマン ヴァイダナサン
出願人/特許権者： ユナイテッド テクノロジーズ コーポレイション
代理人 (2件)： 橋本 剛 ,  富岡 潔
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-174689
公開番号（公開出願番号）：特開2007-010654
出願日： 2006年06月26日
公開日（公表日）： 2007年01月18日
要約：

【課題】少なくとも部分的に閉塞した開口部を有する孔のパターンの位置および角度方向を特定する自動化された装置および方法を提供する。【解決手段】赤外線カメラ(44)、加熱器(58)、レーザスポット投射器(46)、レーザスポットセンサ(48)、メモリ装置(40)およびプロセッサ(42)を含む熱画像/走査装置(10)が提供される。物品(18)のデジタル式熱ピクセル画像が、物品の加熱時にカメラ44で取得される。閉塞の程度の最小の孔(12)が走査用の孔候補として識別される。少なくとも1つの孔候補を含む領域(24)において、レーザビームが物品の表面(16)に投射され、スポットセンサ(48)が反射光(52)を受信する。走査領域(24)を表す一連の点(54)が、メモリ装置(40)にポイントクラウド(70)として保存され、領域(24)における各々の孔の位置および角度方向を計算するために処理される。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

少なくとも1つの基準を含む物品の表面上に閉塞した開口部を有する孔のパターンの位置および角度方向の特定方法であって、 多軸制御装置、加熱器、デジタル式熱画像カメラ、レーザスポット投射器、レーザスポットセンサ、メモリ装置、およびプロセッサを含む装置を提供する提供ステップと、 前記加熱器で前記物品を加熱する加熱ステップと、 1つまたは複数の孔候補を識別する識別ステップと、 前記制御装置によって前記の投射器とセンサとを前記物品に対して移動させながら、前記レーザスポット投射器からレーザビームを投射するとともに前記スポットセンサによってレーザの反射光を受信することで前記1つまたは複数の孔候補を走査する走査ステップと、 前記少なくとも1つの基準に関連して、前記の表面および1つまたは複数の孔候補を表すポイントクラウドとして前記メモリ装置に点を保存する保存ステップと、 前記プロセッサによって前記ポイントクラウドを処理し、前記少なくとも1つの基準に関連して前記1つまたは複数の孔候補の位置および角度方向を特定する処理ステップと、 前記1つまたは複数の孔候補の位置および角度方向から孔のパターンの位置および角度方向を計算する計算ステップと、を含むことを特徴とする孔のパターンの位置および角度方向の特定方法。

IPC (3件)：

G01B 11/00 ,  G01B 11/26 ,  G06T 1/00

FI (3件)：

G01B11/00 H ,  G01B11/26 H ,  G06T1/00 300

Fターム (35件)：

2F065AA03 ,  2F065AA14 ,  2F065AA17 ,  2F065AA19 ,  2F065AA31 ,  2F065BB05 ,  2F065CC08 ,  2F065DD04 ,  2F065DD06 ,  2F065FF01 ,  2F065FF04 ,  2F065FF09 ,  2F065FF44 ,  2F065GG04 ,  2F065GG09 ,  2F065GG21 ,  2F065HH04 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065MM06 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ41 ,  2F065QQ42 ,  2F065TT08 ,  5B057AA02 ,  5B057BA08 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CE06 ,  5B057DA07 ,  5B057DC06 ,  5B057DC08

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 米国特許出願第11/170045号明細書