特許

J-GLOBAL ID：200903006159939158

計測装置、方位角計測装置及びキャリブレーションプログラム、並びにキャリブレーション方法

発明者： 疋田 浩一 ,  山下 昌哉
出願人/特許権者： 旭化成エレクトロニクス株式会社
代理人 (3件)： 森 哲也 ,  内藤 嘉昭 ,  崔 秀▲てつ▼
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-100688
公開番号（公開出願番号）：特開2004-309227
出願日： 2003年04月03日
公開日（公表日）： 2004年11月04日
要約：

【課題】コストを低減し、磁気センサの感度を簡単かつ正確に補正することができるとともに、磁気センサのオフセットを簡単に補正することができる計測装置を提供する。【解決手段】3軸磁気センサ11の向きが3次元空間において変化した時の3軸出力を所定回数以上繰り返して取得し、直交座標系(x,y,z)上に、各主軸が直交座標系(x,y,z)の各座標軸に平行な楕円面を定め、繰り返し取得した測定データを直交座標系(x,y,z)上に配置し、配置した各測定点と楕円面との距離が最小となるように、感度補正係数αx,αy,αzおよび楕円面の中心座標であるオフセットCrx,Cry,Crzを統計的手法によって算出する。【選択図】 図2

請求項（抜粋）：

ベクトル物理量を検出する3軸以上の検出手段と、 前記検出手段の向きが3次元空間において変化した時の3軸出力を所定回数以上繰り返して取得する検出出力取得手段と、 前記3軸出力を成分とする3次元座標上に、各主軸が前記3次元座標の各座標軸に平行な楕円面を定め、前記検出出力取得手段で繰り返し取得した3軸出力データ群に基づいて、前記楕円面の各主軸の長さを算出する楕円面解析手段と、 前記楕円面解析手段で算出した楕円面の各主軸の長さに基づいて、前記検出手段の3軸出力を補正する出力補正手段とを備えることを特徴とする計測装置。

IPC (2件)：

G01C17/32 ,  G01C17/38

FI (3件)：

G01C17/32 ,  G01C17/38 B ,  G01C17/38 C

Fターム (3件)：

2G017AA03 ,  2G017AD53 ,  2G017BA15

引用特許：

審査官引用 (5件)

• 特開昭62-287115
  
• 特開昭59-155714
  
• 特表平1-500618
  
• 特開平2-290508
  
• 特開昭57-052813