特許
J-GLOBAL ID:200903006171837441

走査光学装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 高梨 幸雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-317009
公開番号(公開出願番号):特開平10-142539
出願日: 1996年11月13日
公開日(公表日): 1998年05月29日
要約:
【要約】【課題】 主走査方向に複数の光ビームを発光させる発光タイミングの精度を厳しくすることなく所望の走査線密度で画像情報の記録を行なうことができる走査光学装置を得ること。【解決手段】 同一基板面上に複数の発光点を形成した光源手段から放射された複数の光ビームを光学手段を介して偏向手段に導光し、偏向手段で偏向反射させた後、結像手段により被走査面上に導光し、被走査面上を複数の光ビームで同時に走査する際、同一基板面上での複数の発光点の発光間隔をL、主走査方向に並置した複数の発光点を光軸を中心に副走査方向に傾けた角度をθ、該被走査面上での光ビームのビーム間隔をP、該装置の光学系の主走査方向と副走査方向との結像倍率を各々順にβSF としたとき、βS =n・P/(L・cosθ)、βF =P/(L・sinθ)を満たすように各要素を設定したこと。
請求項(抜粋):
同一基板面上に複数の発光点を形成した光源手段から放射された複数の光ビームを光学手段を介して偏向手段に導光し、該偏向手段で偏向反射させた後、結像手段により被走査面上に導光し、該被走査面上を該複数の光ビームで同時に走査する走査光学装置において、該同一基板面上での複数の発光点の発光間隔をL、主走査方向に並置した複数の発光点を光軸を中心に副走査方向に傾けた角度をθ、該被走査面上での光ビームのビーム間隔をP、該装置の光学系の主走査方向と副走査方向との結像倍率を各々順にβSF としたとき【数1】を満たすように各要素を設定したことを特徴とする走査光学装置。
IPC (2件):
G02B 26/10 ,  B41J 2/44
FI (2件):
G02B 26/10 B ,  B41J 3/00 D
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • 特開昭56-104315
審査官引用 (1件)
  • 特開昭56-104315

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