特許

J-GLOBAL ID：200903006198280074

放射性廃棄体の放射能測定装置

発明者： 近藤 正弘 ,  川▲崎▼ 智
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 作田 康夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-079253
公開番号（公開出願番号）：特開2001-264493
出願日： 2000年03月16日
公開日（公表日）： 2001年09月26日
要約：

【要約】【課題】廃棄体内容物が金属層とスラグ層の二層構造となる溶融固化体の放射能濃度を精度良く測定する。【解決手段】放射線検出器の前面にコリメータを設置し、金属層とスラグ層の二層構造の溶融固化体なる放射性廃棄体を回転昇降させて廃棄体から放出される放射線をエネルギースペクトルとして高さ方向に複数の領域で測定する。各領域毎のエネルギースペクトルから得られる散乱線強度と直接線強度比率の変化に基づき溶融固化体の各層の境界レベルを評価し、更に各領域の該強度比率に基づいて金属層とスラグ層の放射線減衰量を評価する。得られた放射線減衰量と直接線強度、及び境界レベルから金属層とスラグ層に存在する放射能量を定量する。溶融固化体なる放射性廃棄体の金属層とスラグ層の境界レベル及び密度値が未知であっても、測定精度の高い放射性廃棄体の放射能測定装置を提供できる。

請求項（抜粋）：

放射線検出器の前面に設置したコリメータから入射される放射性廃棄体の放射線をエネルギースペクトルとして測定し、エネルギースペクトルから得られる前記放射線の散乱線強度と直接線強度に基づくスペクトル指標を求め、金属層とスラグ層の2層構造の溶融固化体なる放射性廃棄体の金属層とスラグ層の境界レベルを前記スペクトル指標から求め、前記境界レベルと前記スペクトル指標から金属層とスラグ層の密度値を求め、前記密度値から金属層とスラグ層における放射線の減衰量を求め、この放射線減衰量と前記直接線強度から金属層とスラグ層に存在する放射能量を定量することを特徴とする放射性廃棄体の放射能測定装置。

IPC (3件)：

G21F 9/36 511 ,  G01T 1/167 ,  G01T 1/36

FI (3件)：

G21F 9/36 511 P ,  G01T 1/167 C ,  G01T 1/36 A

Fターム (11件)：

2G088EE07 ,  2G088EE21 ,  2G088EE25 ,  2G088FF04 ,  2G088FF15 ,  2G088GG21 ,  2G088JJ12 ,  2G088JJ25 ,  2G088KK24 ,  2G088LL08 ,  2G088LL09