特許
J-GLOBAL ID：200903006227728357
光学式計測装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
三好 秀和 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-338190
公開番号（公開出願番号）：特開平5-172524
出願日： 1991年12月20日
公開日（公表日）： 1993年07月09日
要約：
【要約】【目的】 工作物を工作機械に取り付けた状態にて当該工作物の各部の寸法を作業性よく精密測定すること。【構成】 工作物の如き測定対象物を低倍率にて撮像する2次元イメージセンサ23と測定対象物を高倍率にて撮像する1次元ラインセンサ25とを各々設け、2次元イメージセンサ23により撮像された測定対象物の画像と1次元ラインセンサ25による測定位置指示カーソルCをテレビモニタ25に画面表示するようにし、1次元ラインセンサ25により撮像された測定対象物と測定位置指示カーソルCの相対的位置関係に基づいて測定対象物の測長を行う。
請求項（抜粋）：
測定対象物を所定の倍率にて撮像する2次元イメージセンサと、測定対象物を前記2次元イメージセンサの撮像倍率より高い倍率にて撮像する1次元ラインセンサと、前記2次元イメージセンサにより撮像された測定対象物の画像と前記1次元ラインセンサによる測定位置指示カーソルを画面表示する画面表示手段と、前記1次元ラインセンサにより撮像された測定対象物と前記測定位置指示カーソルとの相対的位置関係に基づいて測定対象物の測長を行う測長処理手段とを有することを特徴とする光学式計測装置。
IPC (3件)：
G01B 11/00
, G06F 15/62 400
, G09G 5/08
