集積回路のパラメータ測定装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：山口邦夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-388020
公開番号（公開出願番号）：特開2003-185717
出願日： 2001年12月20日
公開日（公表日）： 2003年07月03日
要約：

【要約】【課題】スキューによる影響を受けることなくパラメータを測定できるようにする。【解決手段】少なくとも入力クロック信号CKOと測定用の入力データ信号DATAOとを出力する信号測定手段30と、入力クロック信号と測定用入力データ信号のスキューを吸収するスキュー吸収手段40とで構成され、スキューが吸収された測定用クロック信号CKinと測定用データ信号DATAinは測定すべき集積回路10に供給され、集積回路より出力された判定用出力信号DATAoutに基づいて、信号書き込み時における集積回路のパラメータ(例えば信号書き込み時におけるセットアップ時間やホールド時間)を測定する。スキューが吸収された測定用クロック信号CKinと測定用データ信号DATAinに基づいて測定しているので、高精度にパラメータを測定できる。

請求項（抜粋）：

少なくとも入力クロック信号と測定用の入力データ信号とを出力する信号測定手段と、上記入力クロック信号と測定用入力データ信号のスキューを吸収するスキュー吸収手段とで構成され、スキューが吸収された測定用クロック信号と測定用データ信号は測定すべき集積回路に供給され、上記集積回路より出力された判定用出力信号に基づいて、信号書き込み時における上記集積回路のパラメータを測定することを特徴とする集積回路のパラメータ測定装置。

IPC (3件)：

G01R 31/319 , G01R 31/317 , G01R 31/3183

FI (3件)：

G01R 31/28 R , G01R 31/28 Q , G01R 31/28 A

Fターム (9件)：

2G132AA08 , 2G132AB02 , 2G132AB07 , 2G132AD02 , 2G132AG01 , 2G132AG08 , 2G132AH03 , 2G132AL11 , 2G132AL16

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