特許
J-GLOBAL ID：200903006292584079
接触特性の評価方法及び接触状態の評価用コンピュータプログラム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
酒井 宏明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-198967
公開番号（公開出願番号）：特開2006-021551
出願日： 2004年07月06日
公開日（公表日）： 2006年01月26日
要約：
【課題】凹凸表面を有する物体の表面における真実接触状態を詳細に把握し、評価すること。【解決手段】この接触特性の評価方法は、まず、物体の凹凸表面の幾何学形状情報を設定する(ステップS101)。次に、設定した前記幾何学形状情報に基づいて凹凸表面モデルを作成する(ステップS102)とともに、前記凹凸表面に接触する構造体モデルを作成する(ステップS103)。次に、前記凹凸表面モデルと前記構造体モデルとを接触させ(ステップS104)、前記凹凸表面モデルの接触領域、又は前記構造体モデルの接触領域のうち少なくとも一方に生ずる物理量を計算し(ステップS105)、取得する(ステップS106)。そして、取得した前記物理量から、前記凹凸表面モデルと前記構造体モデルとの接触領域における真実接触状態を評価するための接触状態の評価値を求める(ステップS107)。【選択図】 図5
請求項（抜粋）：
凹凸表面を有する物体に対する接触状態を評価するにあたり、
前記凹凸表面を有する物体の凹凸表面の幾何学形状情報を設定する手順と、
設定した前記幾何学形状情報に基づいて凹凸表面モデルを作成するとともに、前記凹凸表面に接触する構造体モデルを作成する手順と、
前記凹凸表面モデルと前記構造体モデルとを接触させる手順と、
前記凹凸表面モデルの接触領域、又は前記構造体モデルの接触領域のうち少なくとも一方に生ずる物理量を取得する手順と、
取得した前記物理量から、前記凹凸表面モデルと前記構造体モデルとの接触領域における真実接触状態を評価するための接触状態の評価値を求める手順と、
を含むことを特徴とする接触特性の評価方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
B60C19/00 Z
, G01M17/02 B
出願人引用 (8件)
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審査官引用 (7件)
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