特許

J-GLOBAL ID：200903006326651293

機器の異常音発生位置特定装置

発明者： 相川 陽子 ,  前 浩之
出願人/特許権者： 日立エンジニアリング株式会社
代理人 (1件)： 高田 幸彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-026603
公開番号（公開出願番号）：特開2003-227748
出願日： 2002年02月04日
公開日（公表日）： 2003年08月15日
要約：

【要約】【課題】本発明の目的は、密閉された機器の異常によって発生した異常音の発生位置を、分解や解体を行わずに外表面から特定することができる機器の異常音発生位置特定装置を提供することにある。【解決手段】密閉された異常音発生機器1の周囲に複数個の異常音センサ2を配置し、それぞれのセンサ2を評価点としそれ以外を影響度算出センサとした場合の全組合せに対して寄与解析部4影響度分析行い、その計算結果の収束や発散具合を統計的に判断することにより機器1の異常音発生位置を特定する。

請求項（抜粋）：

異常音発生機器の周囲に設置される複数個の異常音センサと、前記異常音センサが捉えた信号の中から影響度算出の際に評価点とする異常音センサを選択する評価点選定手段と、前記評価点選定手段で選択した評価点センサに対する他の異常音センサ位置からの影響度を算出する寄与解析手段と、前記寄与解析手段で算出した影響度データを格納する影響度格納手段と、前記影響度データからいずれの評価点に対しても影響度の大きいセンサ位置を異常音発生位置として特定する異常音発生位置特定手段と、前記異常音発生位置特定手段で特定した結果を表示する画像表示手段とを具備することを特徴とする機器の異常音発生位置特定装置。

IPC (3件)：

G01H 3/00 ,  G01H 17/00 ,  G01M 19/00

FI (3件)：

G01H 3/00 A ,  G01H 17/00 A ,  G01M 19/00 A

Fターム (13件)：

2G024AD23 ,  2G024BA11 ,  2G024CA13 ,  2G064AA12 ,  2G064AA13 ,  2G064AB15 ,  2G064AB22 ,  2G064CC03 ,  2G064CC05 ,  2G064CC06 ,  2G064CC13 ,  2G064CC26 ,  2G064CC29