特許

J-GLOBAL ID：200903006327465264

塩素濃度測定装置

発明者： 久保 俊裕 ,  河本 公太郎 ,  浪川 憲二郎 ,  安達 徹 ,  瀬渡 長武 ,  清水 俊之
出願人/特許権者： 株式会社クボタ ,  京都電子工業株式会社
代理人 (1件)： 森本 義弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-315724
公開番号（公開出願番号）：特開平11-148914
出願日： 1997年11月18日
公開日（公表日）： 1999年06月02日
要約：

【要約】【課題】 塩素濃度測定装置において、遊離塩素の濃度を精度良く測定できるようにする。【解決手段】 被測定液Sに浸漬された検出極16と対極18との間に電圧を印加して、これら電極16、18間に流れる電流から被測定液S中の遊離塩素濃度を測定するようにした装置である。この装置は、結合塩素に対する感度の異なる二つの検出極を有するとともに、各々の検出極で得られた電流からそれぞれの電流に含まれる結合塩素の影響分どうしを相殺して遊離塩素の濃度を求める演算処理回路26を有する。

請求項（抜粋）：

被測定液に浸漬された検出極と対極との間に電圧を印加して、これら電極間に流れる電流から被測定液中の遊離塩素濃度を測定するようにした装置であって、結合塩素に対する感度の異なる二つの検出極を有するとともに、各々の検出極で得られた電流からそれぞれの電流に含まれる結合塩素の影響分どうしを相殺して遊離塩素の濃度を求める手段を有することを特徴とする塩素濃度測定装置。

IPC (3件)：

G01N 27/416 ,  G01N 27/30 ,  G01N 33/18

FI (3件)：

G01N 27/46 316 Z ,  G01N 27/30 B ,  G01N 33/18 C

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 残留塩素測定方法および残留塩素計
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-342045   出願人：株式会社クボタ