特許

J-GLOBAL ID：200903006340749883

光ディスク装置

発明者： 堀川 清弘
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 早瀬 憲一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-363947
公開番号（公開出願番号）：特開2002-170239
出願日： 2000年11月30日
公開日（公表日）： 2002年06月14日
要約：

【要約】【課題】 品質が悪いディスクに高速記録を行う場合に、記録の失敗を防ぐことが可能な光ディスク装置を提供する。【解決手段】 光ディスク1の記録パワーテスト領域でのテスト記録中に、光ディスク1に形成されたプリグループから得られるATIPデータのCRC演算をATIPCRC演算回路9により行い、CPU13はエラーが発生したアドレス(エラー検出アドレス)をメモリ15に記憶する。記録パワーテスト領域の再生中、CPU13は最適記録パワーを求め、同時に該最適記録パワーの光ビームで記録されるアドレス(最適記録パワー出射アドレス)をメモリ15に記憶する。記録パワーテスト終了後、上記エラー検出アドレスと最適記録パワー出射アドレスの一致,不一致を判定し、一致する場合は、記録速度を下げて再度記録パワーテストを行い、エラーの発生しない記録速度を求める。

請求項（抜粋）：

プログラム領域での記録の前に行う記録パワーテスト領域でのテスト記録中に光ディスク上にあらかじめ形成されたプリグループから得られるATIPデータのCRC演算結果がエラーであるアドレスをメモリーに保存し、テスト記録終了後に記録パワーテスト領域を再生して最適記録パワーを求め、該最適記録パワーでの記録中におけるATIPデータのCRC演算結果がエラーである場合には、記録速度を下げて再度テスト記録を行い、上記最適記録パワーでの記録中におけるATIPデータのCRC演算結果にエラーが生じない場合には、プログラム領域の記録を行う、ことを特徴とする光ディスク装置。

IPC (4件)：

G11B 7/0045 ,  G11B 7/007 ,  G11B 20/10 311 ,  G11B 20/10 351

FI (4件)：

G11B 7/0045 B ,  G11B 7/007 ,  G11B 20/10 311 ,  G11B 20/10 351 Z

Fターム (21件)：

5D044BC02 ,  5D044CC04 ,  5D044DE38 ,  5D044EF03 ,  5D044GM03 ,  5D090AA01 ,  5D090BB04 ,  5D090CC01 ,  5D090CC05 ,  5D090CC14 ,  5D090CC18 ,  5D090DD03 ,  5D090DD05 ,  5D090EE01 ,  5D090FF30 ,  5D090FF31 ,  5D090FF37 ,  5D090HH01 ,  5D090JJ12 ,  5D090KK03 ,  5D090LL08