特許
J-GLOBAL ID：200903006385904316
受光素子特性検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
京本 直樹 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-156493
公開番号（公開出願番号）：特開平7-012678
出願日： 1993年06月28日
公開日（公表日）： 1995年01月17日
要約：
【要約】【目的】複数の光量に対する受光素子の特性を検査する装置において、ある安定した光量から別のある安定した光量への立ち上がりに対する特性検査を行い、且つ光源の寿命を長期化し、また光量の制御に関し複雑な制御を不要とする。【構成】ある光量に予め設定した光源1a,1bとそれぞれの光源1a,1bに対応したライトガイド3a,3bとの間にシャッター2a,2bを設け、制御部6でシャッター2a,2bのON/OFFを制御してライトガイド3a,3bをまとめるユニット4により合成された光量をライトガイド5で受光素子8に照光し、検査部7で受光素子8の出力を取り込み、受光素子8の特性を検査する。
請求項（抜粋）：
複数の光量に予め設定した複数の光源と、それに対応する数の第一のライトガイドと、それぞれの光源と第一のライトガイドとの間に設けたシャッターと、前記複数の第一のライトガイドをまとめるユニットと、前記ユニットにより合成された光量を受光素子に照光する第二のライトガイドと、前記シャッターのON/OFFを制御する制御部と、前記受光素子の出力を取り込み検査する検査部とを備えることを特徴とする受光素子特性検査装置。
IPC (2件)：
引用特許：
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