特許
J-GLOBAL ID：200903006395649497
ATM試験セル送出回路
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
並木 昭夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-217640
公開番号（公開出願番号）：特開平6-069948
出願日： 1992年08月17日
公開日（公表日）： 1994年03月11日
要約：
【要約】【目的】 試験対象のバーチャルパスおよびバーチャルチャネルのユーザセルトラヒックを正確に模擬した試験セルトラヒックの生成を可能とするATM試験セル送出回路を提供する【構成】 セル検出回路106の検出出力と、セルクロックを取り込むカウンタ101〜105の計数結果と、によりアンド回路107が、試験セルの生成を許可し、それを受けて組立回路108が試験セルを組み立て、選択回路109が空きセルに該試験セルを多重することにより送出する。
請求項（抜粋）：
試験用に定義された試験セルを非同期転送(ATM)モードで伝送路に送信し、その試験セルを受信又はモニタすることによりバーチャルパスおよびバーチャルチャネルの試験を行うATM試験方式にけるATM試験セル送出回路おいて、比較的短時間のセルスロット数を計数するピーク用セルスロット数計数手段と、該ピーク用セルスロット数計数手段により計数されるセルスロット中に送出できる試験セル数を計数するピーク用試験セル送出数計数手段と、比較的長時間のセルスロット数を計数する平均用セルスロット数計数手段と、該平均用セルスロット数計数手段により計数されるセルスロット中に送出すべき試験セル数を計数する平均用試験セル送出数計数手段と、前記平均用セルスロット数計数手段と前記平均用試験セル送出数計数手段のそれぞれの計数状況を監視し、試験セルの平均的な送出個数を管理する平均制御手段と、試験セルを送出可能なセルスロットを検出した際に、前記ピーク用試験セル送出数計数手段による計数値の限度を超えない限り、かつ前記平均制御手段により管理される平均的な送出個数の範囲を超えない限り、試験セルの送出トリガを与えるセル送出許可手段と、前記送出トリガを受けて試験セルを組み立てるセル組立手段と、該セル組立手段により生成された試験セルを、前記送出トリガを受けるとき、伝送路へ送出する選択手段と、を具備して成ることを特徴とするATM試験セル送出回路。
IPC (4件)：
H04L 12/48
, H04L 12/26
, H04L 29/14
, H04Q 11/04
H04L 11/20 Z
, H04L 11/12
, H04L 13/00 315 Z
, H04Q 11/04 R
