特許
J-GLOBAL ID：200903006431479285
はんだ付け外観検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
京本 直樹 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-318169
公開番号（公開出願番号）：特開平5-240623
出願日： 1991年12月02日
公開日（公表日）： 1993年09月17日
要約：
【要約】【目的】プリント基板上に表面実装した部品のボディにより隠された部分のはんだ付け部を光学的に外観検査し、はんだ付け不良を検出する。【構成】ファイバースコープ挿入・位置決め装置2は、ファイバースコープ11を把持・制御し、プリント基板上の高密度実装部品のはんだ付け検査部に挿入・位置決めする。光源装置13で発生した光は、ライトガイド112を通って検査部を照らす。イメージガイド111から光信号として送られてきた画像情報は、CCDカメラ12で電気信号に変換され、TVモニター14に出力される。出力された画像を、人による目視検査または画像処理装置による自動検査によって、はんだ付け良否判断を行う。
請求項（抜粋）：
プリント基板上の実装部品のはんだ付け状態を外観検査するためのはんだ付け外観検査装置において、はんだ付け部の画像を入力するためのファイバースコープ顕微鏡装置と、ファイバースコープを適切な位置に位置決めするためのファイバースコープ位置決め装置とを備えることを特徴とするはんだ付け外観検査装置。
IPC (4件)：
G01B 11/24
, G01N 21/88
, H04N 7/18
, H05K 3/34
