特許
J-GLOBAL ID：200903006433959446
ICカードおよびその照合方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
丸山 隆夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-355206
公開番号（公開出願番号）：特開平5-174207
出願日： 1991年12月20日
公開日（公表日）： 1993年07月13日
要約：
【要約】【目的】 ICカードにおいて、ICモジュールと基材とを分離した不正使用を防止する。【構成】 ICカード10の表面にはランダムパターン16が磁性材料によって形成されている。ICカードの発行時にはパターン16を磁気ヘッド22で読み取ってそのデータをICカードリーダライタ26からICカード10のメモリ36に書き込み、使用時には同様にランダムパターン16を読み取ってメモリ36に記憶されたランダムパターンのデータと照合し、基材とICモジュールとの対応の正当性を確認する。
請求項（抜粋）：
基材とICモジュールとを有するICカードにおいて、前記基材は、該基材に特有のデータとして読み取り可能なランダムパターンが形成され、前記ICモジュールは、前記基材に形成されたランダムパターンに対応するデータを記憶するメモリを含み、前記基材から前記ランダムパターンを読み取るとともに、前記メモリに記憶された前記ランダムパターンに対応するデータを読出し、これらのデータを比較することによってカードの正当性を確認することを特徴とするICカード。
IPC (3件)：
G06K 19/073
, B42D 15/10 521
, G06K 19/10
G06K 19/00 P
, G06K 19/00 R
