特許
J-GLOBAL ID：200903006451609495
自動着陸装置の着陸点平面度検出方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
宮田 金雄 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-092709
公開番号（公開出願番号）：特開平9-280856
出願日： 1996年04月15日
公開日（公表日）： 1997年10月31日
要約：
【要約】【課題】 月、惑星探査機等において、着陸目標地点への着陸可否の判定基準となる、着陸点の平面度を自動計測することの可能な自動着陸装置を得る。【解決手段】 着陸目標点周辺上空において投光ビームを地表面上の異なる地点に対し照射する照射装置15、投光ビームの地表照射点を観測するカメラ16,17、観測画像を処理し、照射点位置の計算、平面度の判定を実施する処理装置18,19を設け、投光ビームを地表面上の異なる地点に対し同時に照射し、2台のカメラ16,17により投光ビームの地表照射点を観測し、観測画像より立体視の原理により照射点位置を計算後、投光ビーム照射点が構成する複数の平面の方程式を算出し、各平面の法線方向、各平面と着陸目標地点との距離を算出、比較することにより、目標着陸地点の平面度を検出する。
請求項（抜粋）：
着陸目標点周辺の地表面近傍において3本の投光ビームを地表面上の異なる3点に対し同時に照射し、2台のカメラにより投光ビーム地表照射点を観測する第1のステップ、上記2台のカメラによる投光ビーム照射点の観測画像を基に、立体視の原理により各照射点位置を計算し、更に3つの照射点が構成する平面の方程式を算出する第2のステップ、着陸目標点周辺上空近傍の位置の異なる複数地点にて上記第1、第2のステップと同様の処理を実施し、得られた複数の平面の方程式を基に各平面の法線方向、各平面と着陸目標地点との距離を算出、比較することにより着陸目標地点及びその周辺の平面度を検出し、着陸可否を判定する第3のステップとを有することを特徴とする自動着陸装置の着陸点平面度検出方法。
IPC (4件)：
G01C 7/02
, G01B 11/24
, G08G 5/02
, B64G 1/66
G01C 7/02
, G01B 11/24 Z
, G08G 5/02 A
, B64G 1/66 A
