特許
J-GLOBAL ID:200903006464631341

三次元計測装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 川口 光男
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-055733
公開番号(公開出願番号):特開2003-254727
出願日: 2002年03月01日
公開日(公表日): 2003年09月10日
要約:
【要約】【課題】計測対象物の三次元形状を用いて計測するに際し、計測に要する時間の短縮を図ることの可能な三次元計測装置を提供する。【解決手段】印刷状態検査装置1は、クリームハンダHの印刷されてなるプリント基板Kを載置するためのテーブルと、プリント基板Kの表面に対し位相の異なる正弦波状の3つの光成分パターンを照射するための照射手段を構成する照明装置3と、プリント基板K上の前記照射された部分を撮像するための撮像手段を構成するCCDカメラ4とを備えている。制御装置7は、照明装置3の照射によって得られる画像データから、光成分毎に輝度と座標との関係を示すチャートを得て、所定の輝度レベル以下であるチャートを除外する。さらに、除外の対象にならないチャートデータの振幅とオフセット成分とを揃えたデータを得る。該データに基づき、位相シフト法を用いて、クリームハンダHの高さを演算する。
請求項(抜粋):
少なくとも計測対象物に対し、縞状の光強度分布を有するとともに、互いに異なる波長成分を有し、互いに相対位相関係の異なる少なくとも2つの光成分パターンを同時に照射可能な照射手段と、少なくとも前記光成分パターンの照射された計測対象物からの反射光を各光成分毎に分離して撮像可能な撮像手段と、前記撮像手段にて前記反射光を光成分毎に撮像して得られた少なくとも2通りの画像データに基づき、当該画像の輝度データを整合させる演算を行う第1の演算手段と、少なくとも2通りの前記整合された輝度データに基づき、少なくとも前記計測対象物の高さを演算する第2の演算手段とを備えたことを特徴とする三次元計測装置。
IPC (2件):
G01B 11/24 ,  G01B 11/25
FI (2件):
G01B 11/24 K ,  G01B 11/24 E
Fターム (22件):
2F065AA04 ,  2F065AA24 ,  2F065AA54 ,  2F065BB02 ,  2F065BB05 ,  2F065CC01 ,  2F065CC26 ,  2F065FF00 ,  2F065FF04 ,  2F065GG23 ,  2F065HH03 ,  2F065HH07 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ24 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL04 ,  2F065LL20 ,  2F065LL22 ,  2F065PP12 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ31
引用特許:
出願人引用 (3件)
  • 三次元計測装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2000-234718   出願人:シーケーディ株式会社
  • バンド
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平8-205154   出願人:日本精密株式会社
  • クリーム半田の印刷状態検査装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平4-074496   出願人:シャープ株式会社

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