特許
J-GLOBAL ID:200903006474635515

レーザ光を用いた計測装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 坂間 暁 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-335704
公開番号(公開出願番号):特開平7-198611
出願日: 1993年12月28日
公開日(公表日): 1995年08月01日
要約:
【要約】【目的】 レーザ光が照射される測定場の被計測分子が発する蛍光の強度の測定において、レーザ光強度により補正された高精度の蛍光強度を得ることができる装置を実現する。【構成】 シート状のレーザ光7を出力するビームエキスパンダ23と測定場8の間に設けられ蛍光物質が封入されたセル24と、測定場8内の被計測分子がレーザ光7を受光して発する蛍光の強度とセル24内の蛍光物質がレーザ光7を受光して発する蛍光の強度を入力して被計測分子が発する蛍光の強度を正規化する正規化手段を備えたことによって、被計測分子が発する蛍光の強度は、レーザ光強度に比例しレーザ光7の迷光により影響されない蛍光物質が発する蛍光の強度によって正規化されるため、被計測分子の濃度や温度等を高い精度で求めることが可能となる。
請求項(抜粋):
シート状のレーザ光を出力し測定場の被計測分子に照射するビームエキスパンダと、上記被計測分子が発する蛍光を入射し蛍光強度を測定する第1の測定手段を備えたレーザ光を用いた計測装置において、上記ビームエキスパンダと測定場の間に設けられ内部に蛍光物質が封入され上記レーザ光を通過させるセル、同セル内の蛍光物質が発する蛍光を入射し蛍光強度を測定する第2の測定手段、および同第2の測定手段と上記第1の測定手段よりそれぞれ測定した蛍光強度を入力し測定場の蛍光強度をセル内の蛍光強度で正規化する正規化手段を備えたことを特徴とするレーザ光を用いた計測装置。
IPC (2件):
G01N 21/64 ,  G01K 11/30

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