特許
J-GLOBAL ID：200903006487802887
ディスクを評価するパターンを有する光ディスク
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴江 武彦 (外6名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-085338
公開番号（公開出願番号）：特開平9-330521
出願日： 1997年04月03日
公開日（公表日）： 1997年12月22日
要約：
【要約】【課題】 その再生面と対物レンズ面との相対的な傾きが発生しても再生信号の特性を最適化することができる光ディスクを提供するにある。【解決手段】 光ディスク10の内周領域のリードイン領域27には、光ディスク10の読み込みエラーを評価するテストパターンとしてのピット長3T,ランド長*6T,ピット長7T、ランド長3T,ピット長6T、ランド長7Tのピット及びランドが交互に形成されている。このテストパターンデータを再生系で再生するこによりエラーレートが検出され、このエラーレートを最小とする為の補正係数が求められ、この補正係数を利用して再生信号が補正されることから、エラーレートが最小の状態で再生信号が再生系で再生される。
請求項（抜粋）：
チャンネルピット長をTとし、n及びmを整数とすると、ピットが最短ピット長(mT)、最長ピット長(nT)並びに最短ピット長(mT)及び最長ピット長(nT)間の所定ピット長のいずれかを有し、非ピットが最短非ピット長(*mT)、最長非ピット長(*nT)並びに最短非ピット長(*mT)及び最長非ピット長(*nT)間の所定の非ピット長のいずれかを有し、このピット及び非ピットの配列でデータが記録されているデータ領域と、このデータ領域外に設けられ、前記最短ピット及び最短非ピットの組み合わせが繰り返される最短ピット列、前記最長ピット及び最長非ピットの組み合わせが繰り返される最長ピット列並びに最短ピット長(mT)及び最長ピット長(nT)間の所定ピット長を有するピット及びこのピットに対応する非ピットの組み合わせが繰り返される所定ピット列が配列されたテストパターンが記録されているテストパターン領域と、を具備することを特徴とする光ディスク。
IPC (2件)：
FI (2件)：
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