特許

J-GLOBAL ID：200903006495552466

積層セラミック電子部品

発明者： 河原 俊典
出願人/特許権者： 株式会社村田製作所
代理人 (1件)： 西澤 均
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-205310
公開番号（公開出願番号）：特開平11-031633
出願日： 1997年07月14日
公開日（公表日）： 1999年02月02日
要約：

【要約】【課題】 素子厚を小さくし、内部電極の積層枚数を増やした場合にも、内部電極とセラミックの界面にクラックが発生せず、所望の特性を得ることが可能な積層セラミック電子部品を提供する。【解決手段】 セラミック素子1の上下両面側の、内部電極3が配設されていない外層部1aを除いた部分を厚み方向に4等分した場合の各分割層を、上から順にA層、B層、C層、及びD層とし、かつ、内部電極3の配設面に平行な直線上で、各分割層に配設された内部電極3を構成する電極膜が存在している部分(X-Y)の、内部電極3の配設領域(直線領域)Xに対する割合の平均値(連続性指数)を、それぞれ、AX、BX、CX及びDXとした場合の連続性指数比(BX+CX)/(AX+DX)の値を0.80〜0.95とする。

請求項（抜粋）：

セラミック中に、セラミック層を介して互いに対向するように内部電極が配設された構造を有する積層セラミック電子部品において、前記セラミック中に内部電極が配設されたセラミック素子の上下両面側の、内部電極が配設されていない外層部を除いた部分を厚み方向に4等分した場合の各分割層を、上から順にA層、B層、C層、及びD層とし、かつ、内部電極の配設面に平行な直線上で、前記各分割層に配設された内部電極を構成する電極膜が存在している部分の、内部電極の配設領域(直線領域)に対する割合の平均値(連続性指数)を、それぞれ、AX、BX、CX及びDXとした場合の連続性指数比(BX+CX)/(AX+DX)の値を0.80〜0.95としたことを特徴とする積層セラミック電子部品。

IPC (3件)：

H01G 4/12 343 ,  H01G 4/30 301 ,  H01G 4/30

FI (4件)：

H01G 4/12 343 ,  H01G 4/30 301 C ,  H01G 4/30 301 E ,  H01G 4/30 301 D