特許

J-GLOBAL ID：200903006543912780

半導体集積回路及びそのテスト方法

発明者： 小林 克美
出願人/特許権者： セイコーエプソン株式会社
代理人 (1件)： 鈴木 喜三郎 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-222449
公開番号（公開出願番号）：特開2001-053232
出願日： 1999年08月05日
公開日（公表日）： 2001年02月23日
要約：

【要約】【課題】 通常動作モードとテストモードとを有する半導体集積回路において、テストモード用端子を設けずに、また、使用状態に限定されずに、テストモードを簡単に設定できる半導体集積回路及びそのテスト方法を提供すること。【解決手段】 通常動作モードとテストモードとを有する半導体集積回路であって、高電位側の電源電圧と低電位側の電源電圧とが供給されて動作する出力ドライバ回路と、出力ドライバ回路の出力に電気的に接続された出力端子と、出力端子に外部から印加された電圧を高電位側の電源電圧と低電位側の電源電圧との内の一方と比較する比較回路と、比較回路の比較結果に基づいて半導体集積回路がテストモードとなるように制御するテストモード制御手段とを具備する。

請求項（抜粋）：

通常動作モードとテストモードとを有する半導体集積回路であって、高電位側の電源電圧と低電位側の電源電圧とが供給されて動作する出力ドライバ回路と、前記出力ドライバ回路の出力に電気的に接続された出力端子と、前記出力端子に外部から印加された電圧を、前記高電位側の電源電圧と前記低電位側の電源電圧との内の一方と比較する比較回路と、前記比較回路の比較結果に基づいて、前記半導体集積回路がテストモードとなるように制御するテストモード制御手段と、を具備することを特徴とする半導体集積回路。

IPC (4件)：

H01L 27/04 ,  H01L 21/822 ,  G01R 31/3185 ,  G01R 31/28

FI (3件)：

H01L 27/04 T ,  G01R 31/28 W ,  G01R 31/28 V

Fターム (18件)：

2G032AB01 ,  2G032AD01 ,  2G032AE06 ,  2G032AE08 ,  2G032AE11 ,  2G032AE14 ,  2G032AK11 ,  2G032AK14 ,  2G032AL05 ,  5F038BE05 ,  5F038CD08 ,  5F038DT02 ,  5F038DT03 ,  5F038DT09 ,  5F038DT18 ,  5F038EZ20 ,  9A001BB05 ,  9A001LL05