特許

J-GLOBAL ID：200903006568615232

半導体集積回路

発明者： 栗原 悟
出願人/特許権者： 日本電気株式会社
代理人 (1件)： 堀 城之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-210302
公開番号（公開出願番号）：特開2000-030492
出願日： 1998年07月10日
公開日（公表日）： 2000年01月28日
要約：

【要約】【課題】 半導体チップ内の配線遅延等に影響されず、また、半導体チップ外からメモリのアクセス時間測定回路の特性測定できる半導体集積回路を提供する点にある。【解決手段】 図1に示すように、本発明の実施の形態1に係る半導体集積回路は、メモリ回路1とフリップフロップ回路2と選択回路3と遅延回路4とで概略構成され、半導体チップ6内に備えられている。また、フリップフロップ回路2は保持回路として用いる。

請求項（抜粋）：

メモリ回路を備え、該メモリ回路のアクセス時間を測定できる半導体集積回路であって、入力信号保持の保持動作を制御できる保持回路と、前記メモリ回路を制御するメモリクロック信号を遅延させる遅延回路と、該遅延回路からの、前記メモリクロック信号を遅延させた出力信号と前記メモリクロック信号とを入力し、入力したこれら2つの信号のうちどちらか一方の信号を選択し、前記遅延回路へ出力する選択回路とを備えたことを特徴とする半導体集積回路。

IPC (2件)：

G11C 29/00 659 ,  G01R 31/28

FI (3件)：

G11C 29/00 659 ,  G01R 31/28 V ,  G01R 31/28 B

Fターム (15件)：

2G032AA07 ,  2G032AB06 ,  2G032AC05 ,  2G032AD06 ,  2G032AG01 ,  2G032AG07 ,  2G032AH04 ,  2G032AK14 ,  2G032AK15 ,  2G032AL16 ,  5L106DD12 ,  5L106DD32 ,  5L106GG03 ,  5L106GG05 ,  5L106GG07

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開平4-274100
  
• 特開平4-274100