特許
J-GLOBAL ID：200903006786629091
液晶パネル外観検査方法及び検査装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
佐々木 宗治 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-047872
公開番号（公開出願番号）：特開2003-247953
出願日： 2002年02月25日
公開日（公表日）： 2003年09月05日
要約：
【要約】【課題】 液晶パネルの外形形状、表面及び端面の割れ、欠けを検出すること。【解決手段】 画像処理装置11が上部・中間・下部リング照明灯3,5、7をそれぞれ点灯させ、上部リング照明灯の照明光により照射された液晶パネル1の表面の反射光をCCDカメラ10が撮像した画像を取り込んで2値化し、2値化した画像P中に現れた白画像P1の有無から液晶パネルの表面の傷、欠け、割れ1aを検出し、中間リング照明灯5の照明光により照射された液晶パネルの側面の反射光をCCDカメラが撮像した画像及び下部リング照明灯の照明光により照射された液晶パネルの側面下部をCCDカメラが撮像した画像をそれぞれ取り込んで2値化し、これら2値化した画像を重ね合わせた画像P中に現れた枠状の白画像P2から液晶パネルの外形形状を検出し、枠状以外の白画像P3、P4の有無から液晶パネルの端面及び下端縁の欠け、割れ1b、1cを検出する。
請求項（抜粋）：
液晶パネルの外形より大きい口径のリング照明灯を該液晶パネルの上部に配置すると共に、該液晶パネルの直上に撮像手段を配置する工程と、点灯させたリング照明灯の照明光を斜め上方から液晶パネルの表面に向けて照射し、照明光により照射された液晶パネルの表面の反射光を撮像手段で撮像する工程と、画像処理装置が撮像手段により撮像された画像を取り込んで2値化し、2値化した画像中に現れた白画像の有無から液晶パネルの表面の傷、欠け、割れを検出する工程と、を含むことを特徴とする液晶パネル外観検査方法。
Fターム (10件)：
2G051AA90
, 2G051AB03
, 2G051AB07
, 2G051BA01
, 2G051BB01
, 2G051BB05
, 2G051CA04
, 2G051CB05
, 2G051EA11
, 2G051ED09
