特許

J-GLOBAL ID：200903006808945901

寸法測定器

発明者： 岸田 任晤 ,  内藤 敦之
出願人/特許権者： 株式会社東海理化電機製作所
代理人 (1件)： 中島 淳 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-220137
公開番号（公開出願番号）：特開平9-061120
出願日： 1995年08月29日
公開日（公表日）： 1997年03月07日
要約：

【要約】【目的】 水平軸回りの傾斜角度を測定し、補正処理を施すことで正確な寸法測定を行うことができる寸法測定器を提供する。【構成】 被測定面20Bからの反射光が2次元CCDセンサ34により受光され被測定面20B上の輝点の軌跡を表すデジタル信号が演算装置38により受信されると、演算装置38はデジタル信号に基づき被測定面20Bに形成された深さ寸法を演算する。また、角度測定機構58により、水平軸回りの傾斜角度を測定し、これと演算された深さ寸法とを用いて補正処理を施すことにより、正確な所望の部位の寸法を測定し、液晶ディスプレイ18に表示する。

請求項（抜粋）：

スリット光を射出する射出手段と、スリット光の反射光を受光し、スリット光を反射した被測定物上の輝点の軌跡を表す信号を出力する信号出力手段と、被測定物に対向させたときの少なくとも水平軸回りの傾きを自動的に検出する角度測定手段と、前記信号出力手段から出力された被測定物上の輝点の軌跡を表す信号と前記角度測定手段により測定された角度に基づいて、輝点の軌跡を構成する線分の各々に対応する被測定物の所望の部位の寸法を演算する演算手段と、前記演算手段による演算結果を出力する出力手段と、を有し、これらが収納されたケーシングを把持した状態でスリット光を被測定物の被測定面に照射して、所望の部位の寸法を測定する寸法測定器。

IPC (3件)：

G01B 11/02 ,  G01B 11/22 ,  G01B 11/26

FI (3件)：

G01B 11/02 H ,  G01B 11/22 H ,  G01B 11/26 H