特許

J-GLOBAL ID：200903006821674623

はんだ付け検査装置

発明者： 本田 敏文 ,  松山 幸雄 ,  ギュンテル デーメンス ,  ペーター メンゲル ,  ルードヴィッヒ リストゥル
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所 ,  シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト
代理人 (1件)： 武 顕次郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-300467
公開番号（公開出願番号）：特開平10-141929
出願日： 1996年11月12日
公開日（公表日）： 1998年05月29日
要約：

【要約】【課題】 プリント板の電子部品のリードとパッドの実際の形状と寸法をもとに欠陥判定パラメータを設定することにより、高信頼性の検査を実現する。【解決手段】 はんだ付け部の外観画像に対して画像処理を施し前記はんだ付け部の形状特徴量を特定する画像処理手段111と、前記画像処理手段により得られたデータと設計時の形状特徴量を格納した検査パラメータ格納手段110からのデータとから前記はんだ付け部の良否判定を行なう欠陥判定手段113と、を備えたはんだ付け検査装置において、前記画像処理手段により特定されたはんだ付け部の形状特徴量を統計処理することによって、はんだ付け部の良品の形状特徴量を抽出する検査対象物標準形状推定手段115を有し、前記検査対象物標準形状推定手段からの標準形状値に基づいて前記検査パラメータ格納手段に格納された欠陥判定パラメータを更新すること。

請求項（抜粋）：

プリント板上のパッドに検査対象電子部品のリードをはんだ付けして実装する電子部品のはんだ付け部の外観画像を検出する画像検出手段と、前記外観画像に対して画像処理を施し前記はんだ付け部の形状特徴量を特定する画像処理手段と、前記画像処理手段において用いる画像処理パラメータと前記はんだ付け部の良否を判定するために用いる欠陥判定パラメータを格納しておく検査パラメータ格納手段と、前記画像処理手段により得られたデータと前記検査パラメータ格納手段に格納される欠陥判定パラメータとから前記はんだ付け部の良否判定を行なう欠陥判定手段と、を備えたはんだ付け検査装置において、前記画像処理手段は、各はんだ付け部毎に、リードとパッドの形状諸元をはんだ付け部の形状特徴量として算出し、前記画像処理手段により特定されたはんだ付け部の形状特徴量を格納しておく検査対象物形状蓄積手段を有し、リードとパッドの設計形状諸元を標準形状特徴量と特定し、前記検査対象物形状蓄積手段に蓄積されたはんだ付け部の形状特徴量をもとに、前記蓄積されたはんだ付け部の形状特徴量から前記標準形状特徴量を抽出する検査対象物標準形状推定手段を有し、前記標準形状特徴量に基づいて前記検査パラメータ格納手段に格納された画像処理パラメータと欠陥判定パラメータを更新する検査パラメータ更新手段を有することを特徴とするはんだ付け検査装置。

IPC (3件)：

G01B 11/24 ,  G01N 21/88 ,  H05K 3/34 512

FI (3件)：

G01B 11/24 K ,  G01N 21/88 F ,  H05K 3/34 512 B