特許
J-GLOBAL ID：200903006822287151
光ディスク製造装置
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-105722
公開番号（公開出願番号）：特開平5-282716
出願日： 1992年03月31日
公開日（公表日）： 1993年10月29日
要約：
【要約】【目的】 光ディスク製造装置において、装置中にディスク基板の保護膜面検査手段,レーベル面検査手段,刻印番号検査手段,鏡面検査手段を設ける。【構成】 信号面2a及び再生面2bを有したディスク基板2を成形するディスク基板成形手段と、信号面2a上に反射膜3を極薄く膜付けして反射膜面3aを形成する反射膜膜付け手段と、反射膜面3a上に保護膜4を膜付けして保護膜面4aを形成する反射膜膜付け手段と、保護膜面4aの良否を自動的に検査する保護膜面検査手段と、保護膜面4a上にレーベル5を印刷してレーベル面5aを形成するレーベル印刷手段と、レーベル面5aの良否を自動的に検査するレーベル検査手段と、刻印番号2d1と印刷したレーベル面5aとの合否を自動的に検査する刻印番号検査手段と、反射膜面3a及信号面2aの良否を自動的に検査する鏡面検査手段とを設ける。
請求項（抜粋）：
複数のピットが刻まれたピット面を有するスタンパをディスク用成形機に取り付け、ほぼ透明な樹脂を用いて前記ピット面を円盤状の信号面として転写すると共に、円盤状のディスク基板を所定の成形時間で成形するディスク基板成形手段と、前記ディスク基板を成形後、前記信号面上に反射膜を膜付けして反射膜面を形成する反射膜膜付け手段と、前記反射膜面を形成後、該反射膜面上に保護膜を膜付けして保護膜面を形成する保護膜膜付け手段と、前記保護膜面を形成後、該保護膜面の良否を検査する保護膜面検査手段と、前記反射膜面を形成後で、且つ、前記反射膜面形成中及び前記保護膜面形成中を除いて適宜に挿入され、前記反射膜面及び下地となる前記信号面の良否を検査する鏡面検査手段と、前記各手段間に設けられ、前記ディスク基板の成形時間に対応して前記各手段により所定の処理を施したディスク基板を次手段に順送するディスク搬送手段とを具備したことを特徴とする光ディスク製造装置。
IPC (2件)：
G11B 7/26 521
, G11B 7/26 531
