特許
J-GLOBAL ID：200903006841812046
散乱吸収体の吸収成分の濃度計測方法及び装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
長谷川 芳樹 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-228253
公開番号（公開出願番号）：特開平8-094517
出願日： 1994年09月22日
公開日（公表日）： 1996年04月12日
要約：
【要約】【目的】 散乱吸収体内部の特定吸収成分の濃度や絶対値などの計測を実現し、その計測精度を大幅に改善するとともに、さらにはそれらの時間変化や空間分布を計測する。【構成】 測定対象である散乱吸収体20に対して散乱係数が等しいか又は等しいと見做せる2種類以上の所定波長の光を入射し、散乱吸収体20の内部を拡散伝搬した所定波長の光を光入射位置と異なる1種類以上の光検出位置で検出して光検出信号を取得し、光検出信号に基づいて所定波長の入射光に対する前記光検出位置での光量及び平均飛行距離を出し、光量、平均飛行距離、および前記2種類以上の所定波長の光に対する吸収成分の単位濃度当たりの吸収係数の差に関する所定の関係から特定吸収成分の濃度を演算する。
請求項（抜粋）：
測定対象である散乱吸収体に対して散乱係数が等しいか又は等しいと見做せる2種類以上の所定波長の光を入射し、前記散乱吸収体の内部を拡散伝搬した前記所定波長の光を前記光入射位置と異なる1種類以上の光検出位置で検出して、光検出信号を取得し、前記光検出信号に基づいて、前記所定波長の入射光に対する前記光検出位置での光量及び平均飛行距離を検出し、前記光量、前記平均飛行距離、および前記2種類以上の所定波長の光に対する吸収成分の単位濃度当たりの吸収係数の差に関する所定の関係から、特定吸収成分の濃度を演算処理する、ことを特徴とする散乱吸収体の吸収成分の濃度計測方法。
IPC (2件)：
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