特許
J-GLOBAL ID：200903006884188621
X線装置用試料ホルダ
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
横川 邦明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-214205
公開番号（公開出願番号）：特開平10-038774
出願日： 1996年07月25日
公開日（公表日）： 1998年02月13日
要約：
【要約】【課題】 X線回折測定の際に、試料を支持する試料ホルダから散乱線が発生することを防止して、高精度なX線回折測定を行うことができるようにする。【解決手段】 X線測定に供される試料を支持するためのX線装置用試料ホルダにおいて、試料Sを収納するための試料収納用開口3を備えたホルダ本体2と、その試料収納用開口3内に配置されていて位置変位可能であり単結晶物質によって形成された底部材4とを有する試料ホルダ1である。底部材4の試料支持面4aは、結晶格子面に対して非平行となるようにカットできる。底部材4の外周側面にゴムパッキン5を環状に装着することもできる。底部材4を単結晶物質によって形成したので、試料Sが少量のためにX線が試料Sを透過して底部材4に到達したとしても底部材4からは回折X線は発生しない。
請求項（抜粋）：
X線測定に供される試料を支持するためのX線装置用試料ホルダにおいて、試料を収納するための試料収納用開口を備えたホルダ本体と、その試料収納用開口内に配置されていて位置変位可能であり単結晶物質によって形成された底部材とを有することを特徴とするX線装置用試料ホルダ。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 1/28 W
, G01N 23/207
