特許
J-GLOBAL ID：200903006903529125
検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
森下 賢樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-180158
公開番号（公開出願番号）：特開2005-019563
出願日： 2003年06月24日
公開日（公表日）： 2005年01月20日
要約：
【課題】部品実装を適切に行うことのできる部品実装システムを提供する。【解決手段】本発明の部品実装システム1における実装検査機20は、実装不良を検出した場合に、設定データの修正指示等を実装機制御装置30に送る。その後、所定の条件が満たされるまで、同一種類の実装不良を検出しても、修正指示等を実装機制御装置30に送らない。この条件とは、例えば所定枚数の基板の検査を行うことであってもよく、また修正した設定データをもとに実装された基板が実装検査機20に到達したことであってもよい。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
基板に部品を実装する1以上の部品実装機と、前記部品実装機の動作を定める設定データを生成する実装機制御装置とを備えた部品実装システムにおいて、設定データに対応した検査基準データをもとに実装後の状態を検査する検査装置であって、
実装不良を検出した場合に、警報指示または修正指示を実装機制御装置に送り、その後、所定の条件が満たされるまで、同一種類の実装不良を検出しても、警報指示または修正指示を実装機制御装置に送らないことを特徴とする検査装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
前のページに戻る
