光導波路デバイスおよび動作点調整方法

発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-173759
公開番号（公開出願番号）：特開平8-015354
出願日： 1994年06月30日
公開日（公表日）： 1996年01月19日
要約：

【要約】【目的】センサ自体による被測定電界の乱れをなくし、高電界の測定が可能な光導波路型電界センサを実現するとともに、電界センサまたは光変調器の動作点を任意に調整する方法を提供する。【構成】分岐干渉光導波路を構成する二つの位相シフト光導波路3,4の光学距離に差を設ける構成とする。また、電界センサまたは光変調器の位相シフト光導波路3,4に応力を発生させる物質を配することにより、動作点の調整を可能とした。

請求項（抜粋）：

基板上に形成された入力光導波路と、該入力光導波路より分岐した二つの位相シフト光導波路と、該二つの位相シフト光導波路が合流する出力光導波路とからなる電気光学効果を用いる電界センサにおいて、前記二つの位相シフト光導波路の光学距離が互いに異なることを特徴とする電界センサ。

IPC (3件)：

G01R 29/08 , G01R 15/24 , G02F 1/035

引用特許：

出願人引用 (3件)

特開平3-021915
特開平4-005615
特開平4-337707

審査官引用 (3件)

特開平3-021915
特開平4-005615
特開平4-337707

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