特許

J-GLOBAL ID：200903007048429459

プラスチック標準物質およびその製造方法

発明者： 中村 利廣 ,  中野 和彦
出願人/特許権者： 学校法人明治大学
代理人 (3件)： 吉延 彰広 ,  山田 正紀 ,  小杉 佳男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-047422
公開番号（公開出願番号）：特開2004-257809
出願日： 2003年02月25日
公開日（公表日）： 2004年09月16日
要約：

【課題】既知の元素がプラスチック基材中に既知量分散し、所定の厚さを有するプラスチック標準物質に関し、正確な分析結果を得ることができるプラスチック標準物質、およびその製造方法を提供する。【解決手段】このプラスチック標準物質の複数箇所に所定の励起ビームを照射し前記元素から発生する蛍光X線のX線強度のばらつきが、相対標準偏差10%以下に抑えられたものであることを特徴とする。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

既知の元素がプラスチック基材中に既知量分散し、所定の厚さを有するプラスチック標準物質において、 このプラスチック標準物質の複数箇所に所定の励起ビームを照射し前記元素から発生する蛍光X線のX線強度のばらつきが、相対標準偏差10%以下に抑えられたものであることを特徴とするプラスチック標準物質。

IPC (2件)：

G01N23/223 ,  G01N1/00

FI (2件)：

G01N23/223 ,  G01N1/00 102B

Fターム (22件)：

2G001AA01 ,  2G001BA04 ,  2G001CA01 ,  2G001FA02 ,  2G001FA30 ,  2G001KA01 ,  2G001LA05 ,  2G001MA05 ,  2G001NA07 ,  2G001NA10 ,  2G001NA11 ,  2G001NA16 ,  2G001NA17 ,  2G001SA04 ,  2G001SA10 ,  2G052AA18 ,  2G052AA39 ,  2G052AD26 ,  2G052FB02 ,  2G052FD00 ,  2G052FD13 ,  2G052GA19

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 蛍光X線分析用の分析試料の作成方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-044571   出願人：理学電機工業株式会社
• 樹脂中の臭素系難燃剤の定量分析方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-221969   出願人：株式会社明電舎
• 特公平5-006571
  
• 特許第3246022号
  

引用文献：

審査官引用 (2件)

• “蛍光X線分析法によるプラスチックフィルム中の微量金属の定量”
• “蛍光X線分析法によるプラスチック中の微量金属の定量”