特許
J-GLOBAL ID:200903007050767639
光ファイバ特性測定装置及び方法
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (6件):
志賀 正武
, 高橋 詔男
, 渡邊 隆
, 鈴木 三義
, 西 和哉
, 村山 靖彦
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-039960
公開番号(公開出願番号):特開2009-198300
出願日: 2008年02月21日
公開日(公表日): 2009年09月03日
要約:
【課題】同期検波器を用いる場合であってもノイズや信号ゆらぎ成分が抑えられて高い測定精度を実現することができる光ファイバ特性測定装置及び方法を提供する。【解決手段】光ファイバ特性測定装置1は、光源1からの射出された所定の変調周波数で変調されたレーザ光を連続光のプローブ光L1とパルス光のポンプL2として光ファイバ16の一端及び他端からそれぞれ入射させ、光ファイバ16から射出される光をタイミング調整器19のタイミングで通過させて光検出器20で検出する。この光ファイバ特性測定装置1は、所定の周波数を有する同期信号を用いて光検出器20の検出結果を同期検波する同期検波器21と、光源11における変調周波数が上記の同期信号の周波数の整数倍である場合に、上記の同期信号の周波数を変更する周波数設定部24aとを備える。【選択図】図1
請求項(抜粋):
所定の変調周波数で変調したレーザ光を射出する光源と、当該光源からのレーザ光を連続光及びパルス光として光ファイバの一端及び他端からそれぞれ入射させる入射手段と、前記光ファイバから射出される光を所定のタイミングで通過させるタイミング調整器と、当該タイミング調整器を通過した光を検出する光検出器とを備え、当該光検出器の検出結果を用いて前記光ファイバの特性を測定する光ファイバ特性測定装置において、
所定の周波数を有する同期信号を用いて前記光検出器の検出結果を同期検波する同期検波器と、
前記光源における変調周波数が前記同期信号の周波数の整数倍である場合に、前記同期信号の周波数を変更する周波数設定部と
を備えることを特徴とする光ファイバ特性測定装置。
IPC (2件):
FI (2件):
Fターム (13件):
2F103BA10
, 2F103BA37
, 2F103CA07
, 2F103EB02
, 2F103EB12
, 2F103EB19
, 2F103EC09
, 2F103EC16
, 2F103ED27
, 2F103ED37
, 2F103FA16
, 2G086DD04
, 2G086DD05
引用特許:
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