特許

J-GLOBAL ID：200903007130924050

投受光式測距装置

発明者： 加藤 茂
出願人/特許権者： オリンパス光学工業株式会社
代理人 (1件)： 篠原 泰司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-217508
公開番号（公開出願番号）：特開平9-061153
出願日： 1995年08月25日
公開日（公表日）： 1997年03月07日
要約：

【要約】【課題】 より多くの測距点を任意に設定できると同時に、高精度の測距を行うことを可能とする投受光式測距装置を提供する。【解決手段】 本発明による投受光式測距装置は、投光光学系及び受光光学系を有する投受光式測距装置において、前記投光光学系は、発光素子1と、投光レンズ系2と、投光レンズ系2より射出された投光光束を屈折により偏向するプリズム5(偏向素子)とにより構成され、プリズム5をシフト移動させることにより前記投光光束の屈折角を変化させるようにした。

請求項（抜粋）：

投光光学系及び受光光学系を有する投受光式測距装置において、前記投光光学系は、発光素子と、投光レンズ系と、該投光レンズ系より射出された投光光束を反射若しくは屈折により偏向する偏向素子とにより構成され、該偏向素子を回転若しくはシフト移動させることにより前記投光光束の反射角若しくは屈折角を変化させるようにしたことを特徴とする測距装置。

IPC (4件)：

G01C 3/06 ,  G01B 11/00 ,  G02B 7/32 ,  G03B 13/36

FI (4件)：

G01C 3/06 A ,  G01B 11/00 B ,  G02B 7/11 B ,  G03B 3/00 A

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 測距装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-163567   出願人：オリンパス光学工業株式会社
• 光ビーム走査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-181987   出願人：富士通株式会社
• 特開昭63-121009
  
• 特開昭63-121009