特許
J-GLOBAL ID:200903007173150261

電流計測システム、計測装置及び計測方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 山口 朔生 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-069158
公開番号(公開出願番号):特開2002-267693
出願日: 2001年03月12日
公開日(公表日): 2002年09月18日
要約:
【要約】【課題】導電体に流れる電流を非接触式で容易に計測できるようにすること。【解決手段】導電体2の周囲を包囲することなく導電体2の近傍に配置される磁力計11と、磁力計11で計測した磁場の強さから導電体2に電流が流れていない状態での磁力計位置の磁場の強さを差し引いた値と、導電体2の各断面部分に流れる電流で決まる磁力計位置の磁場の強さとが等しくなる時の導電体の各断面部分に流れる電流の合計を算出して、導電体に流れる電流を計測する処理装置12とを備えている電流計測システム1。
請求項(抜粋):
導電体に流れる電流を計測する電流計測システムにおいて、導電体の周囲を包囲することなく導電体の近傍に配置される磁力計と、磁力計で計測した磁場の強さから導電体に電流が流れていない状態での磁力計位置の磁場の強さを差し引いた値と、導電体の断面形状の各部分に流れる電流で決まる磁力計位置の磁場の強さとが等しくなる時の導電体の各部分に流れる電流の合計を算出して、導電体に流れる電流を計測する処理装置とを備えていることを特徴とする、電流計測システム。
IPC (4件):
G01R 15/20 ,  G01R 19/00 ,  G01R 33/02 ,  B61L 1/18
FI (4件):
G01R 19/00 B ,  G01R 33/02 K ,  B61L 1/18 Z ,  G01R 15/02 A
Fターム (17件):
2G017AA14 ,  2G017AB02 ,  2G017AC06 ,  2G017BA15 ,  2G025AA03 ,  2G025AA17 ,  2G025AB00 ,  2G035AA12 ,  2G035AB02 ,  2G035AC02 ,  2G035AC13 ,  2G035AD66 ,  5H161AA01 ,  5H161BB18 ,  5H161DD02 ,  5H161DD11 ,  5H161FF05
引用特許:
審査官引用 (2件)
  • 特開平4-296663
  • 特開昭63-253264

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