特許
J-GLOBAL ID：200903007198934860
ガス濃度測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
西村 教光
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-055454
公開番号（公開出願番号）：特開平8-247937
出願日： 1995年03月15日
公開日（公表日）： 1996年09月27日
要約：
【要約】【目的】 光源部と受光部との間の距離設定および光軸設定が同時に短時間で行え、作業負担の軽減を図る。【構成】 光源部1と受光部2とは所定距離L隔てて対向配置される。受光部2には、受光面から垂直方向に所定距離隔てた位置にポイントP1を有するターゲット板40が配設される。光源部1には、半導体レーザ14の光軸と視野中心との間の距離が受光面とターゲット板40のポイントP1との間の距離と一致するように望遠鏡20が搭載される。光源部1と受光部2との間の雰囲気中のガス濃度を測定する際には、望遠鏡20を覗き、視野中心がターゲット板40のポイントP1に合うように操作する。
請求項（抜粋）：
半導体レーザ(14)を有する光源部(1)と、該光源部より所定距離(L)隔てて前記半導体レーザの光路上に対向配置され、該半導体レーザからの光を受光する受光部(2)と、該受光部が受光した光による電気信号に基づいて前記光源部と前記受光部との間におけるガス濃度を計測する計測部(3)とを備えたガス濃度測定装置において、前記受光部の受光面上の光軸に直交して所定距離(H2)隔てた位置にポイント(P1)を有して前記受光部に配設されたターゲット板(40)と、前記半導体レーザの発光面上の光軸と視野中心との間の距離(H1)が、前記受光面上の光軸と前記ポイントとの間の距離と一致するように前記光源部に搭載され、前記ポイントに前記視野中心が合うように操作される望遠鏡(20)とを備えたことを特徴とするガス濃度測定装置。
IPC (4件)：
G01N 21/27
, G01M 3/04
, G01M 3/38
, G01N 21/01
G01N 21/27 Z
, G01M 3/04 F
, G01M 3/38 K
, G01M 3/38 L
, G01N 21/01 Z
