特許
J-GLOBAL ID：200903007217232279
誘電定数の測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-195303
公開番号（公開出願番号）：特開平5-034388
出願日： 1991年08月05日
公開日（公表日）： 1993年02月09日
要約：
【要約】【目的】 測定の誤差の極力低減し、低誘電率、低誘電正接の材料に対し精度のよい誘電定数を測定する方法を提供する。【構成】 一対の電極が両面に形成された平板状被測定誘電体試料を内部導体および外部導体と電気的に接続して同軸線路を被測定試料で構成した平板コンデンサで終端した回路を構成し、終端部における反射係数を測定して被測定試料の誘電定数(誘電率や誘電正接)を求める測定方法において、一定の誘電率および誘電正接を有するサファイア等の単結晶を標準試料として試料周辺の残留インピーダンスおよび浮遊アドミタンスを測定し、これらの測定値により被測定試料の誘電率および誘電正接の実測値を補正する。
請求項（抜粋）：
一対の電極が両面に形成された平板状被測定誘電体試料を内部導体および外部導体と電気的に接続して同軸線路を被測定試料で構成した平板コンデンサで終端した回路を構成し、該終端部における反射係数を測定して被測定試料の誘電定数を求める測定方法において、一定の誘電率および誘電正接を有する単結晶を標準試料として試料周辺の残留インピーダンス、浮遊アドミタンスを測定し、被測定試料の誘電率および誘電正接の実測値を補正することを特徴とする誘電定数の測定方法。
IPC (2件)：
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