特許

J-GLOBAL ID：200903007229882058

試料検査装置

発明者： 岡田 徳弘 ,  木村 六三郎 ,  前川 泰範 ,  澤 賢一 ,  赤井 保正
出願人/特許権者： シスメックス株式会社
代理人 (1件)： 野河 信太郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-309432
公開番号（公開出願番号）：特開2001-124690
出願日： 1999年10月29日
公開日（公表日）： 2001年05月11日
要約：

【要約】【課題】 簡易な構造であって、衛生管理上の問題が発生せず、しかも測定精度に優れた試料検査装置を提供する。【解決手段】 ケース16及びカバー18は、ケース16内に収容されたディスク20を保護している。ディスク20は、注入部28と分散流路64とガイド流路62とを有している。注入部28は、ディスク20の上面に開口状に形成され、粒子含有試料を開口26を通して注入しその箇所に溜めておく。分散流路64は、ディスク20の内部でモータ52の回転軸54を中心とする円に沿って周縁寄り箇所に形成され、注入部28に注入された試料中の粒子成分を分散させる。ガイド流路62は、回転軸54から遠ざかる方向へ延びており、注入部28に注入された試料をディスク20の回転による遠心力で分散流路64へ導く。

請求項（抜粋）：

略垂直な回転軸を有し回転力を発生させるための動力源と、この動力源の回転軸に着脱可能に取り付けられた略水平なディスクと、動力源を制御するための制御部とを備え、ディスクが、粒子含有試料を注入するための注入部と、ディスクの内部に前記回転軸を中心とする円に沿って形成され前記注入部に注入された試料中の粒子成分を分散させるための分散流路とを有し、さらに、照射光学系及び受光光学系を有しディスクの分散流路における粒子成分の光学情報を検出するための光学部と、この光学部の受光光学系から検出された光学情報を解析するための解析部と、この解析部での解析結果を出力するための出力部とを備えてなる試料検査装置。

IPC (4件)：

G01N 15/04 ,  G01N 1/28 ,  G01N 33/49 ,  G01N 35/00

FI (5件)：

G01N 15/04 A ,  G01N 33/49 H ,  G01N 35/00 D ,  G01N 1/28 V ,  G01N 1/28 J

Fターム (15件)：

2G045AA02 ,  2G045AA15 ,  2G045BB39 ,  2G045CA11 ,  2G045CA25 ,  2G045CB03 ,  2G045FA11 ,  2G045FA19 ,  2G045GB10 ,  2G045HA14 ,  2G045JA07 ,  2G058BA01 ,  2G058BA06 ,  2G058GA02 ,  2G058HA01