特許
J-GLOBAL ID：200903007324121935

計測方法、計測装置

発明者：
武本 和樹

武本 和樹 について

, 
内山 晋二

内山 晋二 について


出願人/特許権者：
キヤノン株式会社

キヤノン株式会社 について


代理人 (4件)： 大塚 康徳 ,  高柳 司郎 ,  大塚 康弘 ,  木村 秀二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-386936
公開番号（公開出願番号）：特開2005-147894
出願日： 2003年11月17日
公開日（公表日）： 2005年06月09日
要約：
【課題】 指示具を計測する状況に応じて、その計測方法を動的に変更可能にすること。【解決手段】 指示具の世界座標系における位置姿勢を、指示具を含む撮像画像を用いて求める計測部170B、指示具の所定の座標系における位置姿勢を計測するセンサから出力される計測結果と上記撮像画像とを用いて求める計測部170A、指示具の世界座標系における位置姿勢の変化分、及び計測部170Aもしくは計測部170Bが過去に求めた位置姿勢を用いて求める計測部170Cのうち何れか1つを信頼度に基づいて決定し、決定した計測部により求めた結果を選択部160B、160Cにより仮想空間の融合描画部190に出力する。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
指示具の世界座標系における位置姿勢を計測する計測方法であって、 夫々異なる方法でもって前記指示具の世界座標系における位置姿勢を計測する複数の計測工程と、 前記複数の計測工程のうち何れか1つを、所定の評価量に基づいて決定する決定工程と、 前記決定工程で決定した計測工程により求めた結果を出力する出力工程と を備えることを特徴とする計測方法。
IPC (3件)：
G01B21/00 ,  G01B11/00 ,  G06T1/00
FI (3件)：
G01B21/00 E ,  G01B11/00 H ,  G06T1/00 315
Fターム (32件)：
2F065AA04 ,  2F065AA07 ,  2F065AA14 ,  2F065AA37 ,  2F065DD19 ,  2F065FF01 ,  2F065FF04 ,  2F065FF61 ,  2F065FF63 ,  2F065JJ03 ,  2F065QQ03 ,  2F065UU05 ,  2F069AA04 ,  2F069AA90 ,  2F069BB40 ,  2F069DD08 ,  2F069DD20 ,  2F069GG01 ,  2F069GG04 ,  2F069GG07 ,  2F069GG63 ,  2F069HH01 ,  2F069HH11 ,  5B057AA20 ,  5B057BA02 ,  5B057DA07 ,  5B057DB02 ,  5B057DB06 ,  5B057DB09 ,  5B057DC05 ,  5B057DC08 ,  5B057DC25
引用特許：
出願人引用 (1件)

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