特許

J-GLOBAL ID：200903007328005085

光合波器および光ヘテロダイン検波装置

発明者： 久保 良子
出願人/特許権者： 三洋電機株式会社
代理人 (1件)： 深見 久郎 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-286388
公開番号（公開出願番号）：特開2003-098473
出願日： 2001年09月20日
公開日（公表日）： 2003年04月03日
要約：

【要約】【課題】 光ヘテロダイン法により広範囲かつ複数の波長の光を用いて計測する場合の損失を低減する。【解決手段】 本発明の光合波器は、光ヘテロダイン法により計測を行う際に使用される光合波器であって、ケーシング28と、ケーシング28に設置され複数の光源部からの異なる波長の光が入射する複数のコリメータレンズ29と、ケーシング28内に設置され複数のコリメータレンズ29を透過した異なる波長の光を回折させて合波するための回折格子(回折光学素子)30と、回折格子30によって合波された光を出力するための出力部とを備える。本発明の光ヘテロダイン検波装置は上記の光合波器を備える。

請求項（抜粋）：

光ヘテロダイン法により計測を行う際に使用される光合波器であって、ケーシングと、前記ケーシングに設置され第1光源部からの第1波長の光が入射する第1コリメータレンズと、前記ケーシングに設置され第2光源部からの第2波長の光が入射する第2コリメータレンズと、前記ケーシング内に設置され前記第1と第2コリメータレンズを透過した前記第1と第2波長の光を回折させて合波するための回折光学素子と、前記回折光学素子によって合波された光を出力するための出力部と、を備えた、光合波器。

IPC (4件)：

G02B 27/10 ,  G01J 9/02 ,  G02B 6/293 ,  G01N 21/17 630

FI (4件)：

G02B 27/10 ,  G01J 9/02 ,  G01N 21/17 630 ,  G02B 6/28 D

Fターム (25件)：

2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059CC09 ,  2G059CC16 ,  2G059EE01 ,  2G059EE11 ,  2G059FF02 ,  2G059FF06 ,  2G059GG01 ,  2G059GG02 ,  2G059GG03 ,  2G059GG09 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ06 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ18 ,  2G059JJ22 ,  2G059JJ30 ,  2G059KK01 ,  2G059LL01 ,  2G059LL02 ,  2G059NN06