特許
J-GLOBAL ID：200903007350185658
蛍光顕微鏡及び蛍光寿命の測定方法、並びに蛍光寿命の測定用プログラム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
酒井 宏明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-381793
公開番号（公開出願番号）：特開2004-212203
出願日： 2002年12月27日
公開日（公表日）： 2004年07月29日
要約：
【課題】安価な構成で蛍光寿命を測定すること。【解決手段】半導体レーザー1は、観測対象である試料6に励起光であるレーザー光を照射する。デューティー比可変器12は、コンピュータ10からの指令により、半導体レーザー1のON時間とOFF時間との比を変化させる。また、CCD9は、試料6から放射された蛍光を一定時間蓄積して蛍光を積分する機能を持つ。半導体レーザー1のON時間とOFF時間との比を変化させて、CCD9から積分された蛍光を複数取得する。そして、半導体レーザー11のON時間とOFF時間との比に対する積分された蛍光の変化カーブに、蛍光寿命をパラメータに含むターゲット関数をフィッテングさせることにより、コンピュータ10が蛍光寿命を算出する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
ONとOFFとを繰り返して観測対象である試料に励起光を照射する光源と、
前記光源のON時間とOFF時間との比を変化させるデューティー比可変手段と、
前記試料から放射された蛍光を一定時間蓄積する蛍光の積分手段と、
前記光源のON時間とOFF時間との比を変化させて前記積分手段から複数の積分された前記蛍光を取得し、前記光源のON時間とOFF時間との比に対する積分された前記蛍光の関係から蛍光寿命を求める演算手段と、
を備えたことを特徴とする蛍光顕微鏡。
IPC (1件)：
FI (2件)：
G01N21/64 B
, G01N21/64 E
2G043AA06
, 2G043BA16
, 2G043CA05
, 2G043EA01
, 2G043FA02
, 2G043FA03
, 2G043GA06
, 2G043GB21
, 2G043HA01
, 2G043HA09
, 2G043HA15
, 2G043KA02
, 2G043KA08
, 2G043KA09
, 2G043LA03
, 2G043MA01
, 2G043NA01
, 2G043NA06
