特許

J-GLOBAL ID：200903007359719922

検査治具および自動検査装置

発明者： 小野 洋一 ,  佐々木 一吉
出願人/特許権者： いわき電子株式会社
代理人 (1件)： 岡田 守弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-197616
公開番号（公開出願番号）：特開平10-038970
出願日： 1996年07月26日
公開日（公表日）： 1998年02月13日
要約：

【要約】【課題】 本発明は、複数のボールグリッドを持つ部品の複数のボールグリッドにピンを接触させて検査を行うための検査治具および自動検査装置に関し、位置決め基準を部品の外形からボールグリッド自身に変更し、精度を良くしてピンを確実にボールグリッドに接触させて検査を可能にすることを目的とする。【解決手段】 部品の複数のボールグリッドの位置に対応づけて設けた、ボールグリッドの大きさよりも僅かに大きい孔と、これら孔に挿入された部品のボールグリッドに対して、孔の反対側から挿入されて所定圧でそれぞれ接触するピンとを備えた検査治具およびこの検査治具を用いた自動検査装置である。

請求項（抜粋）：

複数の突起状の端子を持つ部品の当該複数の突起状の端子にピンを接触させて検査を行うための検査治具において、部品の上記複数の突起状の端子の位置に対応づけて設けた、当該突起状の端子の大きさよりも僅かに大きい孔と、これら孔に挿入された部品の突起状の端子に対して、当該孔の反対側から挿入されて所定圧でそれぞれ接触するピンとを備えたことを特徴とする検査治具。

IPC (3件)：

G01R 31/26 ,  G01R 1/073 ,  H01L 21/66

FI (4件)：

G01R 31/26 J ,  G01R 1/073 D ,  H01L 21/66 D ,  H01L 21/66 B