特許

J-GLOBAL ID：200903007431074184

軸受の異常診断方法

発明者： 千徳 稔 ,  冷水 由信
出願人/特許権者： 光洋精工株式会社
代理人 (1件)： 青山 葆 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-260093
公開番号（公開出願番号）：特開平8-122302
出願日： 1994年10月25日
公開日（公表日）： 1996年05月17日
要約：

【要約】【目的】 軸受の異常を詳しく診断できる軸受の異常診断方法を提供する。【構成】 計算上の特性周期に発生したAE信号に基づいて計算した周期別発生率を計算する(S3〜5)。そして、計算上の特性周期から所定の周期ズレ値よりも小さな値だけずれた周期を有するAE信号に基づいて周期ズレ発生率を計算する(S6)。【効果】 周期別発生率と周期ズレ発生率とが両方とも基準値を越えたときには、軸受に比較的大きな傷が発生したものと判断する。周期別発生率が所定の基準値を越えている一方、周期ズレ発生率が所定の基準値を越えていない場合には、上記軸受に比較的小さな傷が発生したものと判断する。

請求項（抜粋）：

軸受が発生するAEをAEセンサで検出して、このAEセンサが出力するAE信号に基づいて、軸受の異常を診断する軸受の異常診断方法であって、所定の期間内に発生したAEのAE信号の個数を周期別に計数し、上記周期別に計数したAE信号の周期別個数を、上記所定期間を各周期で除算して算出した周期別基準個数で除算して、周期別発生率を計算し、上記所定の期間内に、上記周期別個数を計数する各周期から所定の周期ズレ値よりも小さな値だけずれた周期を有するズレAE信号の個数を周期別に計数し、上記周期別に計数したズレAE信号の個数を、上記AE信号の周期別基準個数で除算して、周期ズレ発生率を計算し、上記周期別発生率と、上記周期ズレ発生率とに基づいて軸受の異常を診断することを特徴とする軸受の異常診断方法。