特許
J-GLOBAL ID:200903007448576205
赤外線撮像装置
発明者:
,
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出願人/特許権者:
代理人 (2件):
井島 藤治
, 鮫島 信重
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-282831
公開番号(公開出願番号):特開2004-117254
出願日: 2002年09月27日
公開日(公表日): 2004年04月15日
要約:
【課題】本発明は赤外線撮像装置に関し、シェーディング現象と検知素子特性バラツキを同時に補正することができる赤外線撮像装置を提供することを目的としている。【解決手段】赤外線検知部10の出力をディジタル信号に変換するA/D変換回路11と、該A/D変換回路11の出力をハウジング成分に変換し、変換されたハウジング成分の全検知素子出力レベルに対する割合を計算する除算回路14と、ハウジング成分出力のプロファイルとシーン入射成分出力のプロファイルの差を格納するメモリ15と、シーン入射成分出力のプロファイルを格納するメモリ16と、前記ハウジング成分出力レベルの割合とメモリの値を乗算する乗算回路17と、該乗算結果と補正データ2メモリ16の値を加算する加算回路18と、該加算回路18の結果により赤外線検知部出力を除算する除算回路19とを有して構成する。【選択図】 図3
請求項(抜粋):
赤外線を検知する赤外線検知部と、
光学系鏡筒又は光学系・検知素子固定部分等のハウジングの温度を検出する温度センサと、
該温度センサの出力をディジタル信号に変換するA/D変換回路と、
該A/D変換回路の出力をハウジング成分出力レベルに変換する変換テーブルと、
前記赤外線検知部の出力を受けてフレーム毎の平均レベルを求める演算回路と、
変換されたハウジング成分出力レベルの赤外線検知部出力フレーム毎平均レベルに対する割合を計算する除算回路と、
ハウジング成分出力のプロファイルとシーン入射成分出力のプロファイルの差を格納する補正データ1メモリと、
シーン入射成分出力のプロファイルを格納する補正データ2メモリと、
前記ハウジング成分出力レベルの割合と補正データ1メモリの値を乗算する乗算回路と、
該乗算結果と補正データ2メモリの値を加算する加算回路と、
該加算回路の結果によりA/D変換された赤外線検知部出力を除算する除算回路とを有し、
該除算回路の出力を補正出力とする赤外線撮像装置。
IPC (3件):
G01J1/44
, H04N5/33
, H04N5/335
FI (4件):
G01J1/44 D
, G01J1/44 E
, H04N5/33
, H04N5/335 P
Fターム (17件):
2G065AA04
, 2G065AB02
, 2G065BA05
, 2G065BC18
, 2G065CA03
, 2G065CA07
, 2G065CA21
, 5C024AX06
, 5C024CX27
, 5C024CX35
, 5C024CX54
, 5C024EX15
, 5C024HX23
, 5C024HX28
, 5C024HX29
, 5C024HX30
, 5C024HX57
引用特許:
審査官引用 (4件)
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特開平3-179977
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赤外線撮像装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-049900
出願人:富士通株式会社
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特開平2-211781
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