特許
J-GLOBAL ID:200903007462115490

マーク読み取り装置およびそれを用いた電子部品搭載装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 筒井 大和 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-057778
公開番号(公開出願番号):特開平11-261300
出願日: 1998年03月10日
公開日(公表日): 1999年09月24日
要約:
【要約】【課題】 被検査部材に付されたマークの位置を正確に検出し得るようにする。【解決手段】 搭載ヘッド16には実装基板15aに対して光を照射するランプ33と、実装基板15aからの反射光を受光するカメラ31とを有している。ランプ33から実装基板15aに至る入射光路には入射側偏光部材35が配置され、実装基板15aからカメラ31に至る反射光路には反射側偏光部材36が配置されている。これにより、実装基板15aの表面が高い反射率の表面となっていても、マークMからの反射光を実装基板15aの地の部分に対して明瞭に区別して受光することができる。
請求項(抜粋):
被検出部材の表面に付されたマークを検出するマークの読み取り装置であって、前記被検出部材に沿って移動する移動部材に設けられ、前記被検出部材に光を照射する光源と、前記移動部材に設けられ、前記光源から照射されて前記被検出部材で反射光を受光するカメラと、前記光源から前記被検出部材に至る入射光路に配置された入射側偏光部材と、前記被検出部材から前記カメラに至る反射光路に配置された反射側偏光部材とを有し、前記入射側偏光部材と前記反射側偏光部材との少なくともいずれか一方を回転自在として前記被検出部材に付されたマークを前記カメラにより検出するようにしたことを特徴とするマークの読み取り装置。
IPC (3件):
H05K 13/08 ,  H01L 23/00 ,  H05K 13/04
FI (3件):
H05K 13/08 Q ,  H01L 23/00 A ,  H05K 13/04 A

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