特許

J-GLOBAL ID：200903007510996003

エッジ検出装置

発明者： 久野 良樹
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 武田 元敏
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-333636
公開番号（公開出願番号）：特開平5-165965
出願日： 1991年12月17日
公開日（公表日）： 1993年07月02日
要約：

【要約】【目的】 背景を含む画像から、照明条件に依存されずに対象画像におけるエッジ部分を確実に検出する。【構成】 画像データの局所領域内での平均値μを求める平均値算出手段3によりμの2乗μ2と、分散値算出手段4から分散値Vを求め、これら両手段で求めたVとμ2の比V/μ2を統計量比算出手段で算出して統計量比として、その統計量比をエッジ判定手段9により予め設定したしきい値と比較することにより、エッジを判断する。

請求項（抜粋）：

画像データから局所領域内での平均値を求める平均値算出手段と、上記局所領域内の分散値を求める分散値算出手段と、上記平均値算出手段より求めた平均値を2乗する手段と、上記平均値の2乗と上記分散値算出手段より求めた分散値の比を算出する統計量比算出手段と、該統計量比算出手段の出力を、しきい値と比較することにより上記画像データがエッジであるか否かを判定するエッジ判定手段とを備えたことを特徴とするエッジ検出装置。