特許

J-GLOBAL ID：200903007520175113

粒子状物質センサ-およびこれを用いた粒子状物質の測定方法

発明者： 上坂 博二 ,  浅野 一朗
出願人/特許権者： 株式会社堀場製作所
代理人 (1件)： 藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-295863
公開番号（公開出願番号）：特開2003-098136
出願日： 2001年09月27日
公開日（公表日）： 2003年04月03日
要約：

【要約】【課題】 排ガス中のPMをリアルタイムにかつ高精度に測定することのできるコンパクトな粒子状物質センサ-およびこれを用いた粒子状物質の測定方法を提供すること。【解決手段】 耐熱性および電気絶縁性を有する基体2に排ガスGを通過させる多数の孔3が形成されるとともに、前記各孔3を形成する基体2の両端面にそれぞれ電極4a,4bが形成され、さらに、排ガスGが流れる排気管8内に設けられる程度の大きさに形成されてなる。

請求項（抜粋）：

耐熱性および電気絶縁性を有する基体に排ガスを通過させる多数の孔が形成されるとともに、前記各孔を形成する基体の両端面にそれぞれ電極が形成され、さらに、排ガスが流れる排気管内に設けられる程度の大きさに形成されてなることを特徴とする粒子状物質センサ-。

IPC (2件)：

G01N 27/04 ,  G01N 15/06

FI (2件)：

G01N 27/04 Z ,  G01N 15/06 Z

Fターム (7件)：

2G060AA03 ,  2G060AE20 ,  2G060AE40 ,  2G060AF07 ,  2G060AG06 ,  2G060AG11 ,  2G060HB01