特許

J-GLOBAL ID：200903007523808257

測距装置

発明者： 伊藤 一弥
出願人/特許権者： オリンパス光学工業株式会社
代理人 (1件)： 向 寛二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-057114
公開番号（公開出願番号）：特開平10-239049
出願日： 1997年02月26日
公開日（公表日）： 1998年09月11日
要約：

【要約】【課題】 測距装置において必要とする光学性能を維持しながら被写体側の面から発光手段や受光手段までの長さを短くする。【解決手段】 投射光学系又は受光光学系に被検出物体側が凸面である正の屈折力のメニスカスレンズを備えるようにした。

請求項（抜粋）：

発光手段と、前記発光手段より発する光を被検出物体に向けて投射する投射光学系と、前記被検出物体にての反射光を受光する受光手段と、前記受光手段上に前記反射光を集光させる受光光学系とを備え、前記受光手段に入射する反射光の入射位置により前記被検出物体の位置を検出する測距装置において、前記投射光学系又は前記受光光学系が前記被検出物体側が凸面である正の屈折力のメニスカスレンズを備えたことを特徴とする測距装置。

IPC (3件)：

G01C 3/06 ,  G02B 7/32 ,  G03B 13/36

FI (3件)：

G01C 3/06 A ,  G02B 7/11 B ,  G03B 3/00 A

引用特許：

審査官引用 (5件)

• 特開昭62-047507
  
• 特開平1-158409
  
• 光学素子
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-176870   出願人：オリンパス光学工業株式会社
• 特開昭62-047507
  
• 特開平1-158409