特許
J-GLOBAL ID：200903007526385594
光ファイバ式ひずみゲ-ジ及びひずみ測定システム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
栗原 聖
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-372193
公開番号（公開出願番号）：特開平11-287626
出願日： 1998年12月28日
公開日（公表日）： 1999年10月19日
要約：
【要約】【課題】 小型で安価に製造でき、しかも温度の影響を受けにくく高精度なひずみ計測が可能な光ファイバ式ひずみゲージ及び該光ファイバ式ひずみゲージを用いて多点計測が可能なひずみ測定システムを提供すること。【解決手段】 ゲージベース10と、ゲージベース10の長手方向に沿って所定の間隔Gをおきつつ、ゲージベース10の長手方向に対して傾斜させて形成された第1の溝12及び第2の溝14と、第1及び第2の溝12及び14内に配置され、間隔G内に屈曲部16Aを有する光ファイバ16を有し、測定対象物にゲージベース10を固着して用いる。測定対象物に応力が作用し、ゲージベース10が引張り又は圧縮されると、間隔Gが引張りの場合には増加し圧縮の場合には減少する。この間隔Gの増減により屈曲部16Aに曲げを発生し、光ファイバ16の透過光量等の変化をもたらす。この光量変化をPD等にて検出することによりひずみ量を計測する。
請求項（抜粋）：
ゲージベースと、該ゲージベースの一方向に沿って所定の間隔をおいて、前記ゲージベースの一方向に対して傾斜させた第1及び第2の溝と、該第1及び第2の溝に配置され該第1及び第2の溝の傾斜により前記間隔内に屈曲部を有する少なくとも1本の光ファイバとを有することを特徴とする光ファイバ式ひずみゲージ。
IPC (4件)：
G01B 11/16
, G01D 5/26
, G01L 1/24
, G02B 6/00
G01B 11/16 Z
, G01D 5/26 D
, G01L 1/24 A
, G02B 6/00 B
