特許
J-GLOBAL ID：200903007632109245
距離測定器械の校正のための装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
伊藤 武久 (外1名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-518944
公開番号（公開出願番号）：特表2000-505901
出願日： 1997年10月17日
公開日（公表日）： 2000年05月16日
要約：
【要約】本発明は、距離測定器械の校正のための装置に関する。発信機(1)が高周波数変調された光学的な放射を放出し、当該放射が測定対象物によって反射されて測定受信機(2)によって受信される。前記発信機放射の一部が常に基準放射として取り出され、校正経路を経て基準用受信機(3)へ案内される。当該基準用受信機の電気的な信号が周波数ミキサー(4)に伝達される。周波数ミキサー(4)と、測定放射の測定受信機(2)として用いられるアバランシェフォトダイオードとは、ミキサー周波数で作用される電気的な接続線(5)を介して互いに直接接続されている。それによって、アバランシェフォトダイオードの温度依存性の位相シフトを完全に補整する光電子工学的な校正が可能にされる。それに加えて基準信号及び受信信号における発信機(1)の温度ドリフトによって発生させられる位相シフトも相互に相殺されるので、全体で、特に短い測定時間での及び器械のスイッチオン直後での高められた距離測定精度が生じる。さらに、連続しての機械的な校正に比べて半分にされた測定時間が生じ、それに加えて機械的な切替装置の省略による重量に関する利点、コストに関する利点及び信頼性に関する利点が生じる。
請求項（抜粋）：
高周波数変調された光学的な放射を放出して測定対象物を照明する発信機(1)と、当該測定対象物によって反射された前記放射を検出する測定受信機(2)と、基準用受信機(3)とを有する距離測定器械の校正のための装置にして、距離測定が位相測定原理に従って行われる、距離測定器械の校正のための装置において、 a)内部の基準区間(14)が校正区間として用いられ、前記発信機(1) から放出される前記放射の一部が常に当該基準区間を経て前記基準用受 信機(3)へ導かれ、その結果、前記基準用受信機(3)にて及び前記 測定受信機(2)にて検出された放射が同時に評価され得ること、 b)電気的な接続線(5)が前記基準用受信機(3)の電気的な信号を受信 する周波数ミキサー(4)と測定受信機(2)として用いられるアバラ ンシェフォトダイオードとの間にあり、当該電気的な接続線(5)に高 周波数のミキサー周波数が供給され、その結果、当該高周波数のミキサ ー周波数が前記アバランシェフォトダイオードのバイアス(Uv)を重 ねられ、且つ同時に前記周波数ミキサー(4)に供給され、それによっ て前記周波数ミキサー(4)にて低周波数の校正信号(NF-CAL)が発生 し、且つ前記アバランシェフォトダイオードにて低周波数の測定信号( NF-MESS)が発生し、それらの相互の位相ポジションが距離決定のため に算定されること を特徴とする装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
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