特許

J-GLOBAL ID：200903007663111760

プリント回路板の検査方法

発明者： 兼政 賢一 ,  佐々木 利美雄
出願人/特許権者： 住友ベークライト株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-181886
公開番号（公開出願番号）：特開2002-372502
出願日： 2001年06月15日
公開日（公表日）： 2002年12月26日
要約：

【要約】【課題】 プリント回路板の自動光学式検査において、検査精度を保ちながら欠陥の過検出を低減する。【解決手段】 良品、もしくは、設計データより生成したモデル画像を登録しておく。さらに、検査領域を分割し、それぞれの領域について回路幅、回路間隔を予め登録する。製品とモデルを比較検査し抽出された欠陥について、その欠陥が存在する領域の回路幅、回路間隔に基づいて算出した合否判定基準で合否を判断する。

請求項（抜粋）：

検査対象のプリント回路板のパターン画像と予め登録されているモデル画像とを比較することにより欠陥候補を抽出し、得られた欠陥候補周辺の回路幅及び回路間隔を事前登録情報と比較してプリント回路板の合否判定を行うことを特徴とするプリント回路板の検査方法。

IPC (4件)：

G01N 21/956 ,  G01B 11/30 ,  G06T 1/00 305 ,  H05K 3/00

FI (4件)：

G01N 21/956 B ,  G01B 11/30 A ,  G06T 1/00 305 A ,  H05K 3/00 Q

Fターム (28件)：

2F065AA22 ,  2F065AA23 ,  2F065AA49 ,  2F065BB02 ,  2F065CC01 ,  2F065FF04 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ38 ,  2F065RR05 ,  2F065RR08 ,  2G051AA65 ,  2G051AB01 ,  2G051AB07 ,  2G051AC02 ,  2G051CA03 ,  2G051EA11 ,  2G051EA12 ,  2G051EB01 ,  2G051EC06 ,  5B057AA03 ,  5B057BA02 ,  5B057DA03 ,  5B057DB02 ,  5B057DC32